Vakuumlösungen für die Elektronenmikroskopie und Oberflächenanalyse

Vakuum-Lösungen für die Elektronenmikroskopie und Oberflächenanalyse

Elektronenmikroskope erzeugen Oberflächenabbildungen wie man Sie auch mit dem menschlichen Auge wahrnehmen würde. Bei einem Raster-Elektronen Mikroskop (REM) wird durch einen Elektronenstrahl Punkt für Punkt und Zeile für Zeile über eine Oberfläche einer Probe geführt. Beim Transmissionselektronenmikroskop (TEM) konzentriert sich der Elektronenstrahl auf das Objekt. Ergebnis beider Methoden ist ein Bild, womit eine Beurteilung der Oberfläche der zu untersuchenden Probe möglich ist. Den verschiedenen Messverfahren zur qualitativen Beurteilung von Material- und Oberfächenstrukturen ermöglicht Vakuum eine wesentlich höhere Auflösung als bei herkömmlichen Lichtmikroskopen.

Einsatzgebiete unserer Produkte sind:

Auger
Sims
REM
SEM
TEM
EDX

Eingesetzt werden folgende Produkte zur:

Vakuumerzeugung

Vakuummessung

Quantitative Analyse

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